ריינקייט דעטעקציע טעכנאָלאָגיעס פֿאַר הויך-ריינקייט מעטאַלן

די פאלגענדע איז א פולשטענדיגע אנאליז פון די לעצטע טעכנאלאגיעס, גענויקייט, קאסטן, און אנווענדונג סצענארן:

I. לעצטע דעטעקציע טעכנאָלאָגיעס

1. ‌ICP-MS/MS קאַפּלינג טעכנאָלאָגיע‌

• ‌פּרינציפּניצט טאַנדעם מאַסע ספּעקטראָמעטריע (MS/MS) צו עלימינירן מאַטריץ ינטערפיראַנס, קאַמביינד מיט אָפּטימיזירטע פאָרבאַהאַנדלונג (למשל, זויער דיידזשעסטשאַן אָדער מייקראַווייוו דיסאַלושאַן), וואָס ערמעגליכט שפּור דעטעקציע פון ​​מעטאַלישע און מעטאַלאָיד ימפּיוראַטיז אויף די ppb מדרגה.
• ‌פּרעציזיעדעטעקציע לימיט אזוי נידעריג ווי0.1 פּפּב, פּאַסיק פֿאַר אולטראַ-ריינע מעטאַלן (≥99.999% ריינקייט)
• ‌קאָסטןהויכע אויסגאבן פאר עקוויפּמענט (~285,000–285,000–714,000 דאלאר), מיט פארלאנגענע אויפהאלטונג און אפעראציאנעלע באדערפענישן

1. ‌הויך-רעזאָלוציע ICP-OES‌

• ‌פּרינציפּ: קוואַנטיפיצירט אומריינקייטן דורך אַנאַליזירן עלעמענט-ספּעציפֿישע עמיסיע ספּעקטראַ דזשענערייטאַד דורך פּלאַזמע עקסייטיישאַן.
• ‌פּרעציזיעדעטעקטירט ppm-לעוועל אומריינקייטן מיט א ברייטן לינעארן קייט (5-6 אָרדערס פון מאַגניטוד), כאָטש מאַטריץ ינטערפיראַנס קען פּאַסירן.
• ‌קאָסטןמיטלמעסיגע עקוויפּמענט קאָסטן (~143,000–143,000–286,000 דאלאר), אידעאל פאר רוטינע הויך-ריינקייט מעטאלן (99.9%–99.99% ריינקייט) אין באַטש טעסטינג.

1. ‌גלאָו דיסטשאַרדזש מאַסע ספּעקטראָמעטרי (GD-MS)‌

• ‌פּרינציפּייאניזירט דירעקט האַרטע מוסטער ייבערפלאַכן צו ויסמיידן לייזונג קאַנטאַמאַניישאַן, וואָס ערמעגליכט יסאָטאָפּ שעפע אַנאַליז.
• ‌פּרעציזיעדעטעקציע גרענעצן דערגרייכןפּפּט-לעוועל, דיזיינד פֿאַר האַלב-קאָנדוקטאָר-גראַד אולטראַ-ריינע מעטאַלן (≥99.9999% ריינקייט).
• ‌קאָסטןגאָר הויך (> $714,000 אמעריקאנער דאלאר), באגרענעצט צו פארגעשריטענע לאַבאָראַטאָריעס.

1. ‌אין-סיטו רענטגן פאָטאָעלעקטראָן ספּעקטראָסקאָפּיע (XPS)‌

• ‌פּרינציפּ‌: אנאליזירט אויבערפלאַך כעמישע צושטאַנדן צו דעטעקטירן אָקסייד שיכטן אָדער אומריינקייט פאַזעס 78.
• ‌פּרעציזיענאַנאָסקאַלע טיפקייט רעזאָלוציע אָבער באַגרענעצט צו ייבערפלאַך אַנאַליז.
• ‌קאָסטןהויך (~$429,000 אמעריקאנער דאלאר), מיט קאָמפּליצירטער וישאַלט.

II. רעקאָמענדירטע דעטעקציע לייזונגען

באַזירט אויף מעטאַל טיפּ, ריינקייט גראַד, און בודזשעט, די פאלגענדע קאָמבינאַציעס זענען רעקאַמענדיד:

1. ‌אולטרא-ריינע מעטאַלן (>99.999%)‌

• ‌טעכנאָלאָגיעICP-MS/MS + GD-MS 14
• ‌מעלותדעקט שפּורן פֿון פֿאַרפּעסטיקונגען און איזאָטאָפּ אַנאַליז מיט דער העכסטער פּינקטלעכקייט.
• ‌אַפּליקאַציעסהאַלב-קאָנדוקטאָר מאַטעריאַלן, שפּאַטערינג צילן.

1. ‌נאָרמאַלע הויך-ריינקייט מעטאַלן (99.9%–99.99%)‌

• ‌טעכנאָלאָגיעICP-OES + כעמישע טיטראַציע 24
• ‌מעלותקאָסטן-עפעקטיוו (סך הכל ~$214,000 אמעריקאנער דאלאר), שטיצט שנעלע דעטעקציע פון ​​קייפל עלעמענטן.
• ‌אַפּליקאַציעסאינדוסטריעל הויך-ריינקייט צין, קופּער, אאז"וו.

1. ‌טייערע מעטאַלן (אַו, אַג, פּט)‌

• ‌טעכנאָלאָגיעXRF + פייער אַסיי 68
• ‌מעלותנישט-דעסטרוקטיווע סקרינינג (XRF) צוזאַמען מיט הויך-גענויקייט כעמישע וואַלידאַציע; גאַנץ קאָסטן~71,000–71,000–143,000 דאלאר‌‌
• ‌אַפּליקאַציעסצירונג, גאָלדשטאָק, אדער סצענאַרן וואָס דאַרפן מוסטער אָרנטלעכקייט.

1. ‌קאָסטן-סענסיטיווע אַפּליקאַציעס‌

• ‌טעכנאָלאָגיעכעמישע טיטראַציע + קאַנדאַקטיוויטי/טערמישע אַנאַליז 24
• ‌מעלותגאַנץ קאָסטן< $29,000 אמעריקאנער דאלאר, פּאַסיק פֿאַר קליינע און מיטלשטענדיקע געשעפטן אָדער פֿאָרלייפיקע סקרינינג.
• ‌אַפּליקאַציעסרוי מאַטעריאַל דורכקוק אָדער קוואַליטעט קאָנטראָל אויף-פּלאַץ.

III. טעכנאָלאָגיע פאַרגלייַך און סעלעקציע גייד

קיצער

• ‌פּריאָריטעט אויף פּרעציזיעICP-MS/MS אדער GD-MS פאר אולטרא-הויך-ריינהייט מעטאלן, וואס פארלאנגען באַדייטנדיקע בודזשעטן.
• ‌באַלאַנסירטע קאָסטן-עפעקטיווקייטICP-OES קאָמבינירט מיט כעמישע מעטאָדן פֿאַר רוטינע אינדוסטריעלע אַפּליקאַציעס.
• ‌נישט-דעסטרוקטיווע באדערפענישןXRF + פייער אַסיי פֿאַר טייערע מעטאַלן.
• ‌בודזשעט באגרענעצונגעןכעמישע טיטראַציע צוזאַמען מיט קאַנדאַקטיוויטי/טערמישע אַנאַליז פֿאַר קליינע און מיטלשטענדיקע געשעפטן